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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选，展示 31 条相关能力。
按标准归类为 11 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目：外部目检和外观及机械检查、外形尺寸、温度循环、粒子碰撞噪声检测、老炼、细检漏、粗检漏
检测对象：电子元器件
半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 方法
检测项目：外部目检和外观及机械检查、外形尺寸、温度循环、粒子碰撞噪声检测、老炼、细检漏、粗检漏
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
检测项目：温度循环、老炼、温度贮存、恒定加速度
检测对象：电子元器件
电子及电气元器件试验方法 GJB360B-2009 方法
电子及电气元器件试验方法 GJB360B-2009 方法
检测项目：温度循环、温度冲击、粒子碰撞噪声检测、老炼
检测对象：电子元器件
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
检测项目：温度循环、温度贮存、恒定加速度
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
检测项目：高温试验
检测对象：电子元器件
半导体分立器件试验方法 GJB128A-97
半导体分立器件试验方法 GJB128A-97
检测项目：高温试验
检测对象：电子元器件
电子及电气元器件试验方法 GJB360B-2009
电子及电气元器件试验方法 GJB360B-2009
检测项目：高温试验
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：恒定加速度
检测对象：电子元器件
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法
检测项目：恒定加速度
检测对象：电子元器件
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目：恒定加速度
检测对象：电子元器件