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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“IEC 61967”筛选，展示 3 条相关能力。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC 61967-2:2005
集成电路 电磁发射的测量,150kHz至1GHz 第2部分：辐射发射的测量 TEM小室和宽带TEM小室法
检测项目：辐射发射-TEM小室法
检测对象：集成电路
IEC 61967-4:2021
集成电路 电磁发射的测量 第4部分：传导发射的测量 1Ω/150Ω直接耦合法
检测项目：传导发射- 1Ω/150Ω直接耦合法
检测对象：集成电路
IEC 61967-8:2023
集成电路 电磁发射的测量 第8部分：辐射发射的测量 IC带状线法
检测项目：辐射发射-IC带状线法
检测对象：集成电路