当前查看:中国赛宝实验室工业和信息化部电子第五研究所中国电子产品可靠性与环境试验研究所
其他地区
数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选,展示 81 条相关能力。
按标准归类为 14 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
GJB 4027B-2021
军用电子元器件破坏性物理分析方法
检测项目:外部目检、引出端强度、内部目检、制样镜检、X射线检查、声学扫描显微镜、键合强度、SEM检查 等 27 项,点击展开全部
检测对象:多层瓷介(独石)电容器
检测对象:金属膜固定电阻器
检测对象:塑封微电子器件
检测对象:微电子器件
检测对象:专用电子元器件
SJ/T 11611-2016
电子元器件详细规范 线绕固定电阻器 RXF-1型涂覆型线绕熔断电阻器 评定水平E
检测项目:熔断特性、电流冲击、意外过载试验、外观检查、尺寸、阻值、耐电压、可焊性 等 18 项,点击展开全部
检测对象:熔断电阻
SJ 2865-88
电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器 RF10型涂覆型熔断电阻器 评定水平E
检测项目:标志、阻值、引出端强度、耐焊接热、稳态湿热、熔断特性、意外过载试验
检测对象:熔断电阻器
SJ 2866-88
电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器 RF11型瓷壳型熔断电阻器 评定水平E
检测项目:标志、阻值、引出端强度、耐焊接热、稳态湿热、熔断特性
检测对象:熔断电阻器
GB/T 5593-2015
电子元器件结构陶瓷材料
检测项目:弹性模量、泊松比
检测对象:结构陶瓷材料
GB/T 5594.2-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法
检测项目:弹性模量、泊松比
检测对象:结构陶瓷材料
GJB360B-2009
电子及电气元件试验方法 方法
检测项目:浸渍试验、耐湿试验
检测对象:电子元器件
GJB 4152A-2014
多层瓷介电容器及其类似元器件剖面制备及检验方法
检测项目:制样镜检
检测对象:专用电子元器件
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目:HBM ESD
检测对象:电子元器件静电放电
MIL-STD-883K:2016
微电路试验方法标准 方法
检测项目:HBM ESD
检测对象:电子元器件静电放电
ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2023
静电放电试验,人体模型
检测项目:HBM ESD
检测对象:电子元器件静电放电
EIA/JESD22-A115C 2010
静电放电试验,机器模型
检测项目:MM ESD
检测对象:电子元器件静电放电
JEDEC JESD22-B103B.01:2016
振动,变频 JEDEC JESD22-B103B.01:
检测项目:振动,变频
检测对象:电子元器件
JEDEC JESD22-B104-C:2004
机械冲击
检测项目:机械冲击
检测对象:电子元器件