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中国赛宝实验室工业和信息化部电子第五研究所中国电子产品可靠性与环境试验研究所

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数据更新时间

2026-05-12

能力范围

当前机构按“电子元器件”筛选,展示 81 条相关能力。

按标准归类为 14 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

GJB 4027B-2021

军用电子元器件破坏性物理分析方法

27 项检测项目

检测项目:外部目检、引出端强度、内部目检、制样镜检、X射线检查、声学扫描显微镜、键合强度、SEM检查 等 27 项,点击展开全部

检测对象:多层瓷介(独石)电容器

外部目检引出端强度内部目检制样镜检

检测对象:金属膜固定电阻器

外部目检内部目检制样镜检

检测对象:塑封微电子器件

外部目检X射线检查声学扫描显微镜内部目检键合强度SEM检查玻璃钝化层完整性

检测对象:微电子器件

外部目检X射线检查粒子碰撞噪声检测(PIND)密封内部目检键合强度SEM检查剪切强度;粘接强度内部气体成分分析

检测对象:专用电子元器件

电阻器DPA试验电容器DPA试验敏感元器件和传感器DPA试验开关DPA试验电连接器DPA试验继电器DPA试验线圈和变压器DPA试验石英晶体和压电元件DPA试验半导体分立器件DPA试验集成电路DPA试验光电器件DPA试验声表面波器件DPA试验熔断器DPA试验封装表面镀涂材料分析

SJ/T 11611-2016

电子元器件详细规范 线绕固定电阻器 RXF-1型涂覆型线绕熔断电阻器 评定水平E

18 项检测项目

检测项目:熔断特性、电流冲击、意外过载试验、外观检查、尺寸、阻值、耐电压、可焊性 等 18 项,点击展开全部

检测对象:熔断电阻

熔断特性电流冲击意外过载试验外观检查尺寸阻值耐电压可焊性过载阻值随温度变化引出端强度耐焊接热温度快速变化冲击振动气候顺序耐久性稳态湿热

SJ 2865-88

电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器 RF10型涂覆型熔断电阻器 评定水平E

7 项检测项目

检测项目:标志、阻值、引出端强度、耐焊接热、稳态湿热、熔断特性、意外过载试验

检测对象:熔断电阻器

标志阻值引出端强度耐焊接热稳态湿热熔断特性意外过载试验

SJ 2866-88

电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器 RF11型瓷壳型熔断电阻器 评定水平E

6 项检测项目

检测项目:标志、阻值、引出端强度、耐焊接热、稳态湿热、熔断特性

检测对象:熔断电阻器

标志阻值引出端强度耐焊接热稳态湿热熔断特性

GB/T 5593-2015

电子元器件结构陶瓷材料

2 项检测项目

检测项目:弹性模量、泊松比

检测对象:结构陶瓷材料

弹性模量泊松比

GB/T 5594.2-1985

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法

2 项检测项目

检测项目:弹性模量、泊松比

检测对象:结构陶瓷材料

弹性模量泊松比

GJB360B-2009

电子及电气元件试验方法 方法

2 项检测项目

检测项目:浸渍试验、耐湿试验

检测对象:电子元器件

浸渍试验耐湿试验

GJB 4152A-2014

多层瓷介电容器及其类似元器件剖面制备及检验方法

1 项检测项目

检测项目:制样镜检

检测对象:专用电子元器件

制样镜检

GJB 548C-2021

微电子器件试验方法和程序 方法

1 项检测项目

检测项目:HBM ESD

检测对象:电子元器件静电放电

HBM ESD

MIL-STD-883K:2016

微电路试验方法标准 方法

1 项检测项目

检测项目:HBM ESD

检测对象:电子元器件静电放电

HBM ESD

ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2023

静电放电试验,人体模型

1 项检测项目

检测项目:HBM ESD

检测对象:电子元器件静电放电

HBM ESD

EIA/JESD22-A115C 2010

静电放电试验,机器模型

1 项检测项目

检测项目:MM ESD

检测对象:电子元器件静电放电

MM ESD

JEDEC JESD22-B103B.01:2016

振动,变频 JEDEC JESD22-B103B.01:

1 项检测项目

检测项目:振动,变频

检测对象:电子元器件

振动,变频

JEDEC JESD22-B104-C:2004

机械冲击

1 项检测项目

检测项目:机械冲击

检测对象:电子元器件

机械冲击

机构信息

机构名称

中国赛宝实验室工业和信息化部电子第五研究所中国电子产品可靠性与环境试验研究所

所在地区

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企业地址

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