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北京振兴计量测试研究所

当前查看:北京振兴计量测试研究所

北京市

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

当前机构按“电源”筛选,展示 24 条相关能力。

按标准归类为 11 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

SJ 20646-1997

混合集成电路DC/DC变换器测试方法

8 项检测项目

检测项目:输出电压<I>V</I><Sub>O</Sub>、输出电流<I>I</I><Sub>O</Sub>、输出纹波电压<I>V</I><Sub>RIP</Sub>、电压调整率<I>S</I><Sub>V</Sub>、电流调整率<I>S</I><Sub>I</Sub>、交叉调整率、输入电流<I>I</I><Sub>I</Sub>、效率<I>n</I>

检测对象:DC-DC电源变换器

输出电压<I>V</I><Sub>O</Sub>输出电流<I>I</I><Sub>O</Sub>输出纹波电压<I>V</I><Sub>RIP</Sub>电压调整率<I>S</I><Sub>V</Sub>电流调整率<I>S</I><Sub>I</Sub>交叉调整率输入电流<I>I</I><Sub>I</Sub>效率<I>n</I>

SJ/T 20961-2006

集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 5.1.9、

3 项检测项目

检测项目:静态电源电流<I>I</I><Sub>CC</Sub>、静态电源电流<I>I</I><Sub>DD</Sub>、静态电源电流<I>I</I><Sub>SS</Sub>

检测对象:A/D和D/A转换器

静态电源电流<I>I</I><Sub>CC</Sub>静态电源电流<I>I</I><Sub>DD</Sub>静态电源电流<I>I</I><Sub>SS</Sub>

GB/T43061-2023

半导体集成电路PWM控制器测试方法

2 项检测项目

检测项目:电源电压抑制比<I>K</I><Sub>SVR</Sub>、电源电流<I>I</I><Sub>CC</Sub>

检测对象:半导体集成电路PWM控制器

电源电压抑制比<I>K</I><Sub>SVR</Sub>电源电流<I>I</I><Sub>CC</Sub>

GJB 151B-2013

军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量

2 项检测项目

检测项目:25Hz~150kHz电源线传导敏感度CS101、10kHz~100MHz电缆和电源线阻尼正弦瞬态传导敏感度

检测对象:专用设备和分系统

25Hz~150kHz电源线传导敏感度CS10110kHz~100MHz电缆和电源线阻尼正弦瞬态传导敏感度

GJB151C-2024

军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量

2 项检测项目

检测项目:25Hz~150kHz电源线传导敏感度CS101、10kHz~100MHz电缆和电源线阻尼正弦瞬态传导敏感度

检测对象:专用设备和分系统

25Hz~150kHz电源线传导敏感度CS10110kHz~100MHz电缆和电源线阻尼正弦瞬态传导敏感度

GJB 3947A-2009

军用电子测试设备通用规范

2 项检测项目

检测项目:电源稳态试验、电源中断试验

检测对象:专用测试设备

电源稳态试验电源中断试验

GB/T 17574-1998

半导体器件 集成电路 第2部分数字集成电路 第Ⅳ篇第二节

1 项检测项目

检测项目:静态条件下的电源电流<I>I</I><Sub>CC</Sub>

检测对象:数字集成电路

静态条件下的电源电流<I>I</I><Sub>CC</Sub>

GB/T36477-2018

半导体器件 快闪存储器测试方法

1 项检测项目

检测项目:电源电流

检测对象:FLASH存储器

电源电流

GB/T 17940-2000

半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 第Ⅳ篇第二节

1 项检测项目

检测项目:电源电压抑制比<I>K</I><Sub>SVR</Sub>

检测对象:模拟集成电路

电源电压抑制比<I>K</I><Sub>SVR</Sub>

GB/T 14030-1992

半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

1 项检测项目

检测项目:静态电源电流<I>I</I><Sub>+</Sub>

检测对象:时基电路

静态电源电流<I>I</I><Sub>+</Sub>

GB/T42975-2023

半导体集成电路 驱动器测试

1 项检测项目

检测项目:电源电流<I>I</I><Sub>DD</Sub>

检测对象:半导体集成电路 驱动器

电源电流<I>I</I><Sub>DD</Sub>

机构信息

机构名称

北京振兴计量测试研究所

所在地区

北京市

企业地址

暂无地址信息

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