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中国信息通信研究院泰尔实验室

当前查看:中国信息通信研究院泰尔实验室

北京市 · 北京市

地址:北京市海淀区学院路40号

联系电话:010-62301618

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

当前机构按“电子器件”筛选,展示 58 条相关能力。

按标准归类为 4 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

YD/T 2342-2011

通信用光电子器件可靠性试验方法

26 项检测项目

检测项目:光电特性、外形尺寸、外部目检、机械冲击、变频震动、热冲击、光纤扭力、光纤侧向拉力 等 26 项,点击展开全部

检测对象:光收发合一模块

光电特性外形尺寸外部目检机械冲击变频震动热冲击光纤扭力光纤侧向拉力光纤拉力引脚牢固性受力传输连接器插拔耐久性高温贮存低温贮存温度循环恒定湿热抗潮湿循环高温寿命内部水汽含量密封性ESD阈值ESD抗扰度芯片剪切力可焊性引线键合强度可燃性

Telcordia GR-468-CORE 2004

用于电信设备的光电子器件的一般可靠性保证要求

21 项检测项目

检测项目:高温循环测试、高湿老化、烘干步骤、灰尘、粘性测试、有角度的物理接触连接器(APC)端面的几何形状要求、振动测试、耐力测试 等 21 项,点击展开全部

检测对象:光配线设备

高温循环测试高湿老化烘干步骤灰尘粘性测试有角度的物理接触连接器(APC)端面的几何形状要求振动测试耐力测试耐用性测试连接器安装测试平衡张力负载高温老化测试撞击测试弯曲测试冷凝后高温循环施加张力负载下的传输盐水喷雾测试扭曲测试无角度的物理接触连接器的插针体端面几何形状浸渍/腐蚀测试高湿/冷凝循环

Telcordia GR-468-CORE-2004

用于电信设备的光电子器件的一般可靠性保证要求

5 项检测项目

检测项目:高温循环测试、高湿老化、高温老化测试、冷凝后高温循环、可靠性试验

检测对象:无源光波分复用(WDM)设备

高温循环测试高湿老化高温老化测试冷凝后高温循环可靠性试验

检测对象:波分复用器

可靠性试验

检测对象:光收发合一模块

可靠性试验

YD/T 2001.2-2011

用于光纤系统的半导体光电子器件 第2部分:测试方法

4 项检测项目

检测项目:LED、LD及LD组件S11参数、单纵模LD或LD组件边模抑制比(SMSR)、LED、LD或LD组件发射中心波长、LD组件光回波损耗(ORL)

检测对象:半导体器件

LED、LD及LD组件S11参数单纵模LD或LD组件边模抑制比(SMSR)LED、LD或LD组件发射中心波长LD组件光回波损耗(ORL)

机构信息

机构名称

中国信息通信研究院泰尔实验室

所在地区

北京市 · 北京市

企业地址

北京市海淀区学院路40号

法定代表人

余晓晖

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