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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选，展示 7 条相关能力。
按标准归类为 7 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC 62215-3：2013
集成电路-脉冲抗扰度试验-第三部分：非同步瞬态注入法
检测项目：瞬态脉冲抗扰度-EFT测试
检测对象：电子元器件
IEC61000-4-2：2008
电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验
检测项目：静电放电-ESD测试
检测对象：电子元器件
IEC 61967-4：2006
集成电路.150kHz至1GHz电磁发射的测量.第4部分：传导发射的测量.1Ω/150Ω直接耦合法 IEC 61967-4：
检测项目：1 Ohm/150 Ohm传导发射测试
检测对象：电子元器件
IEC 61967-3：2014
集成电路-电磁辐射的测量-第3部分:辐射发射测量-表面扫描法
检测项目：表面扫描辐射发射-NFS测试
检测对象：电子元器件
IEC 61967-2：2005
集成电路-150kHz-1GHz电磁辐射的测量-第2部分:辐射发射测量-TEM辐射室和宽频TEM辐射室法
检测项目：TEM辐射发射测试
检测对象：电子元器件
IEC 62132-2：2010
集成电路-电磁抗扰度测量-第2部分：辐射抗扰度测量-TEM室和宽带TEM室法
检测项目：TEM辐射抗扰度测试
检测对象：电子元器件
ANSI/ESD STM5.5.1-2016
静电放电敏感度试验-传输线脉冲-器件级
检测项目：器件级传输线脉冲
检测对象：电子元器件