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上海航天技术基础研究所

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上海市

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

当前机构按“电源”筛选,展示 14 条相关能力。

按标准归类为 8 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

GB/T17574-1998

半导体集成电路第2部分:数字集成电路 IV.

6 项检测项目

检测项目:工作状态时电源电流I<Sub>CC</Sub>、维持状态时电源电流I<Sub>CCS</Sub>、电源电流I<Sub>CC</Sub>、输出高电平电源电流I<Sub>CCH</Sub>、输出低电平电源电流I<Sub>CCL</Sub>、电源电流I<Sub>DD</Sub>

检测对象:半导体集成电路MOS随机存储器

工作状态时电源电流I<Sub>CC</Sub>维持状态时电源电流I<Sub>CCS</Sub>

检测对象:半导体集成电路TTL电路

电源电流I<Sub>CC</Sub>输出高电平电源电流I<Sub>CCH</Sub>输出低电平电源电流I<Sub>CCL</Sub>

检测对象:半导体集成电路CMOS电路

电源电流I<Sub>DD</Sub>

GJB 9388-2018

集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法

2 项检测项目

检测项目:电源电流 I<Sub>cc</Sub>、电源电流I<Sub>cc</Sub>

检测对象:A/D转换器

电源电流 I<Sub>cc</Sub>

检测对象:D/A转换器

电源电流I<Sub>cc</Sub>

GB/T 14030-1992

半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

1 项检测项目

检测项目:静态电源电流I<Sub>+</Sub>

检测对象:半导体集成电路时基电路

静态电源电流I<Sub>+</Sub>

QJ 2491-93

半导体集成电路运算放大器测试方法

1 项检测项目

检测项目:电源电压抑制比 K<Sub>SVR</Sub>

检测对象:半导体集成电路运算放大器

电源电压抑制比 K<Sub>SVR</Sub>

GB/T 6798-1996

半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

1 项检测项目

检测项目:电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>

检测对象:半导体集成电路电压比较器

电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>

SJ20961-2006

集成电路A/D和 D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006

1 项检测项目

检测项目:电源电压灵敏度K<Sub>SVS</Sub>

检测对象:D/A转换器

电源电压灵敏度K<Sub>SVS</Sub>

SJ 20294-1993

半导体集成电路JW 1524、JW1525、JW1525A、JW1526、JW1527、JW1527A型脉宽调制器详细规范

1 项检测项目

检测项目:电源电流I<Sub>cc</Sub>

检测对象:PWM脉宽调制电路

电源电流I<Sub>cc</Sub>

SJ 50597/57-2003

半导体集成电路JW584 /JW584A可编程电压基准详细规范 3.4/

1 项检测项目

检测项目:电源电流I<Sub>cc</Sub>

检测对象:电压基准

电源电流I<Sub>cc</Sub>

机构信息

机构名称

上海航天技术基础研究所

所在地区

上海市

企业地址

暂无地址信息

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