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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子器件”筛选，展示 29 条相关能力。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序
检测项目：外部目检、稳定性烘焙、温度循环、密封、高温电老炼、恒定加速度、X射线无损检测、粒子碰撞噪声检测试验 等 16 项，点击展开全部
检测对象：微电子器件
检测对象：集成电路(破坏性物理分析)
GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序
检测项目：外部目检、稳定性烘焙、温度循环、密封、高温电老炼、恒定加速度、X射线无损检测、粒子碰撞噪声检测试验 等 10 项，点击展开全部
检测对象：微电子器件
GB/T 15651-1995
半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件 Ⅳ
检测项目：电流传输比h<Sub>F(ctr)</Sub>、集电极-发射极饱和电压V<Sub>CE(sat)</Sub>
检测对象：光电耦合器
GJB 8119-2013
半导体光电子器件通用规范
检测项目：电老炼
检测对象：光电耦合器