当前查看：中国测试技术研究院
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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子及电气元件”筛选，展示 1 条相关能力。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB 360B-2009
电子及电气元件试验方法 方法107温度冲击 方法
检测项目：温度冲击试验
检测对象：半导体器件(环境试验)