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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电源”筛选，展示 13 条相关能力。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 17574-1998
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第IV篇 第3节
检测项目：静态条件下的电源电流(I<sub>CC</sub>)、电源电流(I<sub>DD</sub>)、输出高电平时电源电流(I<sub>CCH</sub>)、输出低电平时电源电流(I<sub>CCL</sub>)、输出无效时电源电流(I<sub>CCZ</sub>)、工作状态电源电流(I<sub>CC</sub>)、待机状态电源电流(I<sub>SB</sub>)、动态条件下的总电源电流 等 10 项，点击展开全部
检测对象：数字集成电路
检测对象：半导体集成电路-CMOS电路
检测对象：半导体集成电路-TTL电路
检测对象：半导体集成电路-存储器
检测对象：微控制单元
检测对象：数字信号处理器
GB/T 17940-2000
半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 第IV篇 第2节 方法
检测项目：电源电压抑制比(K<sub>SVR</sub>)、电源电流(I<sub>CC</sub>)
检测对象：半导体集成电路运算放大器