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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“半导体集成电路模拟开关”筛选，展示 5 条相关能力。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 14028-2018
半导体集成电路 模拟开关测试方法
检测项目：导通电阻Ron、导通电阻路差△Ron、截止态漏极漏电流ID（off）、导通态漏电流IDS（on）
检测对象：半导体集成电路模拟开关
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项目：电源电流I<Sub>DD</Sub>
检测对象：半导体集成电路模拟开关