当前查看：深圳市振华微电子有限公司检测中心
广东省 · 深圳市
地址：深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南四道034号高新工业村W1-A座2层、3层、W1-B座1层、2层、3层
联系电话：0755-26525806
数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子器件”筛选，展示 50 条相关能力。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
检测项目：稳定性烘焙、温度循环（空气介质）、热冲击（液体介质）、老炼试验、恒定加速度、低气压（高空工作）、粒子碰撞噪声检测试验、键合强度 等 25 项，点击展开全部
检测对象：微电子器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：低气压（高空工作）、温度循环（空气介质）、热冲击（液体介质）、老炼试验、恒定加速度、粒子碰撞噪声检测试验、键合强度、外形尺寸 等 24 项，点击展开全部
检测对象：微电子器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 360B-2009 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 360B-2009 方法
检测项目：随机振动
检测对象：电子及电气元件