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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电源”筛选，展示 136 条相关能力。
按标准归类为 34 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
音频、电源和大功率脉冲变压器和电感器通用规范 GJB 2829-1997
音频、电源和大功率脉冲变压器和电感器通用规范 GJB 2829-1997
检测项目：直流电阻、初级电感、变压比（匝比）、介质耐电压、绝缘电阻、外部目检（包含外观及机械检查）、温度冲击、振动
检测对象：小功率脉冲变压器
检测对象：电子元器件
电源滤波器通用规范 GJB 10171-2022
电源滤波器通用规范 GJB 10171-2022
检测项目：电容量（对地电容量）、介质耐电压、绝缘电阻、电压降、插入损耗、直流电阻、过负荷
检测对象：射频干扰滤波器
音频、电源和大功率脉冲变压器和电感器通用规范 GJB 2829A-2013
音频、电源和大功率脉冲变压器和电感器通用规范 GJB 2829A-2013
检测项目：介质耐电压、绝缘电阻、极性、品质因数、匝数比或电压比、电容量
检测对象：音频、电源和大功率脉冲变压器
GB/T 14714-2008
微型小计算机系统设备用开关电源通用规范
检测项目：负载稳定度试验S<Sub>i</Sub>、电压稳定度试验S<Sub>V</Sub>、输出纹波及噪声试验、效率ŋ、维持时间试验
检测对象：开关电源
GB/ 14714-2008
微型小计算机系统设备用开关电源通用规范
检测项目：负载稳定度、电压稳定度、输出纹波及噪声、效率、维持时间
检测对象：开关电源
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目：负载跃变时的恢复时间、输出电压、输出电流、输出纹波电压、线性调整率、负载调整率、交叉调整率、输入电流 等 13 项，点击展开全部
检测对象：混合集成电路DC/DC电源模块
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-1997
检测项目：输出电压V<Sub>O</Sub>、输出电流I<Sub>o</Sub>、输出纹波电压V<Sub>rip</Sub>、电压调整率S<Sub>v</Sub>、电流调整率S<Sub>i</Sub>、交叉调整率V<Sub>c</Sub>、输入电流I<Sub>I</Sub>、效率ŋ 等 12 项，点击展开全部
检测对象：混合集成电路DC/DC电源模块
GB/T 17574-1998
半导体集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇第3节
检测项目：电源电流I<Sub>DD</Sub>、动态条件下的总电源电流、静态条件下的电源电流、静态工作电源电流、电源电流I<Sub>CC</Sub>、静态接口电源电流I<Sub>ICC0Q</Sub>、静态内核电源电流I<Sub>ICCINTQ</Sub>、电源电流 等 11 项，点击展开全部
检测对象：CMOS数字集成电路
检测对象：半导体集成电路TTL电路
检测对象：半导体器件集成电路存储器
检测对象：半导体集成电路微处理器及外围接口电路
检测对象：半导体集成电路模拟开关
检测对象：半导体集成电路霍尔效应数字开关电路
检测对象：DSP
检测对象：现场可编程门阵列
检测对象：DSP数字信号处理器
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018
检测项目：电源电流I<Sub>CC</Sub>、静态接口电源电流I<Sub>ICC0Q</Sub>、静态内核电源电流I<Sub>ICCINTQ</Sub>、静态条件下的电源电流（静态接口电源电流）、静态条件下的电源电流（静态内核电源电流）、静态条件下的电源电流
检测对象：DSP
检测对象：现场可编程门阵列
检测对象：DSP数字信号处理器
GB/T 17940-2000
半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 第IV篇第2节
检测项目：电源电压抑制比、电源纹波抑制比、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>、电源纹波抑制比S<Sub>rip</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
检测对象：半导体集成电路电压调整器
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
检测项目：高电平电源电流I<Sub>CCH</Sub>、低电平电源电流I<Sub>CCL</Sub>、高电平电源电流、低电平电源电流
检测对象：半导体光电耦合器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
检测项目：静态电源电流、电源电压抑制比、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10805-2018
检测项目：电源电流、电源电压抑制比、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压比较器
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009
检测项目：介质耐电压、绝缘电阻、电容量
检测对象：音频、电源和大功率脉冲变压器
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
检测项目：电源电流I<Sub>DD</Sub>、电源电流
检测对象：半导体集成电路TTL电路
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996
检测项目：工作状态时V<Sub>DD</Sub>电源电流I<Sub>DD</Sub>、维持状态时V<Sub>DD</Sub>电源电流I<Sub>DDS</Sub>
检测对象：半导体器件集成电路存储器
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项目：静态电源电流、静态电源电流I<Sub>S</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项目：电源电压抑制比、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
GB/T 6798-1996
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：电源电压抑制比、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压比较器
GB/T 4377-2018
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：电源纹波抑制比、电源纹波抑制比S<Sub>rip</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压调整器
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项目：电源电流、电源电流I<Sub>DD</Sub>
检测对象：CMOS数字集成电路
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996
检测项目：工作状态时电源电流、维持状态时电源电流
检测对象：半导体器件集成电路存储器
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
检测项目：电源电流、直流电源抑制比
检测对象：集成电路模拟/数字转换器
检测对象：集成电路数字/模拟转换器
GB/T 36477-2018
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
检测项目：动态条件下的总电源电流
检测对象：半导体器件集成电路存储器
集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB9388-2018
集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB9388-2018
检测项目：直流电源抑制比P<Sub>SRRDC</Sub>
检测对象：集成电路模拟/数字转换器
检测对象：集成电路数字/模拟转换器
集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
检测项目：电源电流I<Sub>CC</Sub>
检测对象：集成电路数字/模拟转换器
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
检测项目：绝缘电阻R<Sub>I</Sub>
检测对象：混合集成电路DC/DC电源模块
GB/T14028-2018
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目：静态工作电源电流
检测对象：半导体集成电路模拟开关
GB/T 14030-1992
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目：静态电源电流I<Sub>+</Sub>
检测对象：半导体集成电路时基电路
GB/T 35006-2018
半导体集成电路 电平转换器测试方法
检测项目：电源电流
检测对象：CMOS数字集成电路
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
检测项目：电源电流
检测对象：集成电路数字/模拟转换器
GB/T 14030-92
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目：静态电源电流
检测对象：半导体集成电路时基电路
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目：绝缘电阻
检测对象：混合集成电路DC/DC电源模块
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法
检测项目：静态电源电流I<Sub>S</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器