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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“半导体集成电路模拟开关”筛选，展示 30 条相关能力。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T14028-2018
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目：静态工作电源电流、导通电阻R<Sub>on</Sub>、导通电阻路差△R<Sub>on</Sub>、截止态漏极漏电流I<Sub>Doff</Sub>、截止态源极漏电流I<Sub>Soff</Sub>、导通态漏电流I<Sub>DSon</Sub>、开启时间t<Sub>on</Sub>、通道转换时间 等 16 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路模拟开关
GB/T17574-1998
半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇第2节
检测项目：输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、静态工作电源电流、输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流
检测对象：半导体集成电路模拟开关
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项目：输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输入高电平电流、输入低电平电流
检测对象：半导体集成电路模拟开关