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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选，展示 7 条相关能力。
按标准归类为 7 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
MIL-STD-883H Method 3015.8
静电放电敏感度等级 MIL-STD-883H 方法 3015.8 \
检测项目：ESD阈值（HBM）
检测对象：集成电路/电子元器件（电磁兼容）
MIL-STD-883J Method 3015.9
静电放电敏感度等级 MIL-STD-883J 方法 3015.9 \
检测项目：ESD阈值（HBM）
检测对象：集成电路/电子元器件（电磁兼容）
MIL-STD-883K Method3015.9
静电放电敏感度等级 MIL-STD-883K 方法 3015.9 \
检测项目：ESD阈值（HBM）
检测对象：集成电路/电子元器件（电磁兼容）
ANSI/ESD STM5.1-2007
静电放电敏感度测试 人体放电模型（HBM）-器件级 \
检测项目：ESD阈值（HBM）
检测对象：集成电路/电子元器件（电磁兼容）
ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2010
静电放电敏感度测试 人体放电模型（HBM）-器件级 \
检测项目：ESD阈值（HBM）
检测对象：集成电路/电子元器件（电磁兼容）
ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2014
静电放电敏感度测试 人体放电模型（HBM）-器件级 \
检测项目：ESD阈值（HBM）
检测对象：集成电路/电子元器件（电磁兼容）
ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2017
静电放电敏感度测试 人体放电模型（HBM）-器件级 \
检测项目：ESD阈值（HBM）
检测对象：集成电路/电子元器件（电磁兼容）