欧司朗光电半导体中国有限公司可靠性测试和分析实验室

GB/T 16594-2008

微米级长度的扫描电镜测量方法通则

JESD22-A119A; Condition A (Oct 2015)

低温存储试验

IEC 60068-2-1 (Edition 6.0 2007-03)

环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温

JESD22-A101D.01 (Jan 2021)

温湿度偏压寿命试验

IEC 60068-2-67 (Edition 1.0 1995-12)

环境试验 第2-67部分:试验方法 试验Cy:稳态湿热加速试验(主要用于部件)

JESD22-A101D (July 2015)

温湿度存储试验

JESD22-A103E (October 2015)

高温存储试验

IEC 60068-2-2 Edition 5.0 2007-07

环境试验方法 2-2部分 试验B：高温 IEC60068-2-2 第5版 2007-

JESD22-A104F.01(April 2023)

温度循环试验

JESD22-A105D( Jan 2020)

温度循环偏置试验

JESD22-A108G (Nov 2022)

温度、偏置和寿命试验