当前查看:中国船舶集团有限公司第七〇九研究所微电子测试校准实验室
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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选,展示 28 条相关能力。
按标准归类为 3 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
GJB4027A-2006
电子元器件破坏性物理分析方法 1103/
检测项目:外部目检、X射线检查、内部目检、键合强度、剪切强度、声学扫描显微镜检查、密封、粒子碰撞噪声检测试验 等 10 项,点击展开全部
检测对象:破坏性物理分析(DPA)
GJB4027B-2021
电子元器件破坏性物理分析方法 1004/2.5、1103/2.5、1104/
检测项目:外部目检、X射线检查、内部目检、键合强度、剪切强度、声学扫描显微镜检查、密封、粒子碰撞噪声检测试验 等 10 项,点击展开全部
检测对象:破坏性物理分析(DPA)
GJB8897-2017
军用电子元器件失效分析要求与方法
检测项目:外部检查、电测验证、内部检查、X射线检查、封装外部清洗、粒子碰撞噪声检测试验、密封性检查、剖面分析
检测对象:失效分析