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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“IEC 62132”筛选，展示 4 条相关能力。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC 62132-2: 2010
集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分 辐射抗扰度测量 TEM小室和GTEM小室法
检测项目：辐射抗扰度测量-TEM小室法
检测对象：集成电路（IC）
IEC 62132-3: 2007
集成电路 电磁抗扰度测量 150kHz-1GHz 第3部分 大电流注入法
检测项目：抗扰度测量-大电流注入法(BCI)
检测对象：集成电路（IC）
IEC 62132-4: 2006
集成电路 电磁抗扰度测量 150kHz-1GHz 第4部分 直接功率注入法
检测项目：抗扰度测量-直接功率注入法(RF DPI)
检测对象：集成电路（IC）
IEC 62132-8:2012
集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分 辐射抗扰度测量-IC 带状线法
检测项目：辐射抗扰度测量-IC 带状线法
检测对象：集成电路（IC）