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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“半导体集成电路模拟开关”筛选，展示 10 条相关能力。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T14028-2018
《半导体集成电路模拟开关测试方法》
检测项目：导通电阻 <I>R</I><Sub>ON</Sub>、导通电阻路差 △<I>R</I><Sub>ON</Sub>、截止态漏极漏电流<I>I</I><Sub>D</Sub>(off)、截止态源极漏电流<I>I</I><Sub>S</Sub>(off)、导通态漏电流 <I>I</I><Sub>DS</Sub>(on)
检测对象：半导体集成电路模拟开关
GB/T17574-1998
《半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路》 第Ⅳ篇 第2节
检测项目：输出高电平电压 <I>V</I><Sub>OH</Sub>、输出低电平电压 <I>V</I><Sub>OL</Sub>、输入高电平电流 <I>I</I><Sub>IH</Sub>、输入低电平电流<I>I</I><Sub>IL</Sub>、静态条件下的电源电流 <I>I</I><Sub>DD</Sub>
检测对象：半导体集成电路模拟开关