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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电源”筛选，展示 18 条相关能力。
按标准归类为 8 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《军用EMI电源滤波器规范》 GJB 6242-2008 方法
《军用EMI电源滤波器规范》 GJB 6242-2008 方法
检测项目：绝缘电阻、对地电容、插入损耗、电压降
检测对象：电源滤波器
《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》 SJ/T10739-1996
《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》 SJ/T10739-1996
检测项目：工作状态时<I>V</I><Sub>DD</Sub>电源电流<I> I</I><Sub>DD</Sub>、工作状态时<I>V</I><Sub>CC</Sub>电源电流 <I>I</I><Sub>CC</Sub>、维持状态时<I>V</I><Sub>DD</Sub>电源电流<I> I</I><Sub>DDS</Sub>、维持状态时<I>V</I><Sub>CC</Sub>电源电流 <I>I</I><Sub>CCS</Sub>
检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器
《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》 SJ/T10735-1996
《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》 SJ/T10735-1996
检测项目：电源电流 <I>I</I><Sub>CC</Sub>、输出高电平时电源电流 <I>I</I><Sub>CCH</Sub>、输出低电平时电源电流 <I>I</I><Sub>CCL</Sub>
检测对象：半导体集成电路TTL电路
GB/T17574-1998
《半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路》 第Ⅳ篇 第2节
检测项目：静态条件下的电源电流 <I>I</I><Sub>DD</Sub>、静态条件下的电源电流 <I>I</I><Sub>CC</Sub>
检测对象：数字集成电路
检测对象：半导体集成电路微处理器及外围接口电路
检测对象：半导体集成电路模拟开关
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》 SJ/T10741-2000
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》 SJ/T10741-2000
检测项目：电源电流 <I>I</I><Sub>DD</Sub>
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
GB/T4377-2018
《半导体集成电路电压调整器测试方法》
检测项目：电源纹波抑制比 <i>S</i><sub>RIP</sub>
检测对象：半导体集成电路电压调整器
《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》 SJ/T10738-1996
《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》 SJ/T10738-1996
检测项目：电源电压抑制比<I>K</I><Sub>SVR</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算（电压）放大器
《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 SJ/T10805-2018
《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 SJ/T10805-2018
检测项目：电源电压抑制比 <I>K</I><Sub>SVR</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压比较器