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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子器件”筛选，展示 71 条相关能力。
按标准归类为 27 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 方法
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 方法
检测项目：低气压试验、高温试验、温度循环、耐湿试验、盐雾试验、恒定加速度、外部目检、粒子碰撞噪声检测 等 14 项，点击展开全部
检测对象：电气产品
检测对象：电子电气产品及元器件
检测对象：电子元器件（破坏性物理分析）
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021 方法
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021 方法
检测项目：低气压试验、外部目检、粒子碰撞噪声检测、密封、键合强度、芯片剪切强度、物理尺寸、超声显微镜检查 等 9 项，点击展开全部
检测对象：电气产品
检测对象：电子元器件（破坏性物理分析）
《微电子器件试验方法和程序》GJB 548C-2021 方法
《微电子器件试验方法和程序》GJB 548C-2021 方法
检测项目：高温试验、耐湿试验、盐雾试验、低气压试验、冲击、恒定加速度、引出端强度
检测对象：电子电气产品及元器件
检测对象：电子元器件（破坏性物理分析）
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：交变湿热试验、振动试验、盐雾试验、低气压试验、温度循环试验
检测对象：电气产品
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
检测项目：交变湿热试验、振动试验、盐雾试验、低气压试验、温度循环试验
检测对象：电气产品
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法
检测项目：低气压试验、物理尺寸、超声显微镜检查
检测对象：电子电气产品及元器件
检测对象：电子元器件（破坏性物理分析）
《微电子器件试验方法和程序》GJB548C-2021 方法
《微电子器件试验方法和程序》GJB548C-2021 方法
检测项目：温度循环、温度冲击试验（液态）
检测对象：电子电气产品及元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB548B-2005 方法
《微电子器件试验方法和程序》 GJB548B-2005 方法
检测项目：温度冲击试验（液态）、引线涂覆附着力试验
检测对象：电子电气产品及元器件
检测对象：电子元器件（破坏性物理分析）
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法1005条件 A
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法1005条件 A
检测项目：高温试验
检测对象：电子电气产品及元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB548A-1996 方法1010A
《微电子器件试验方法和程序》 GJB548A-1996 方法1010A
检测项目：温度循环
检测对象：电子电气产品及元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法1004A
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法1004A
检测项目：耐湿试验
检测对象：电子电气产品及元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法1009A
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法1009A
检测项目：盐雾试验
检测对象：电子电气产品及元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法2026 方法
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法2026 方法
检测项目：振动试验
检测对象：电子电气产品及元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 方法2026.1 方法
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 方法2026.1 方法
检测项目：振动试验
检测对象：电子电气产品及元器件
《微电子器件试验方法和程序》GJB548C-2021 方法2026.1 方法
《微电子器件试验方法和程序》GJB548C-2021 方法2026.1 方法
检测项目：振动试验
检测对象：电子电气产品及元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法2002A
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法2002A
检测项目：冲击
检测对象：电子电气产品及元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-1996 方法
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-1996 方法
检测项目：冲击
检测对象：电子电气产品及元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法2001A
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法2001A
检测项目：恒定加速度
检测对象：电子电气产品及元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法2009A
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法2009A
检测项目：外部目检
检测对象：电子元器件（破坏性物理分析）
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法2020A
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法2020A
检测项目：粒子碰撞噪声检测
检测对象：电子元器件（破坏性物理分析）
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法1014A
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法1014A
检测项目：密封
检测对象：电子元器件（破坏性物理分析）
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法2010A、方法2017A
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法2010A、方法2017A
检测项目：内部目检
检测对象：电子元器件（破坏性物理分析）
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 方法2010、方法
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 方法2010、方法
检测项目：内部目检
检测对象：电子元器件（破坏性物理分析）
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021 方法2010.2、方法
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021 方法2010.2、方法
检测项目：内部目检
检测对象：电子元器件（破坏性物理分析）
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法2011A
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法2011A
检测项目：键合强度
检测对象：电子元器件（破坏性物理分析）
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法2019A
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法2019A
检测项目：芯片剪切强度
检测对象：电子元器件（破坏性物理分析）
《微电子器件试验方法和程序》 GJB548A-1996 方法2025A
《微电子器件试验方法和程序》 GJB548A-1996 方法2025A
检测项目：引线涂覆附着力试验
检测对象：电子元器件（破坏性物理分析）