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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选，展示 16 条相关能力。
按标准归类为 12 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
MIL-STD-883-1:2019
微电路环境试验方法
检测项目：耐湿试验、温度循环试验、低气压综合试验
检测对象：电子元器件
MIL-STD-883-2:2019
微电路机械试验方法
检测项目：冲击试验、振动试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A103E:2015
高温贮存寿命
检测项目：高温试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A103E.01:2021
高温贮存寿命
检测项目：高温试验
检测对象：电子元器件
JESD22-B110B.01：2019
机械冲击-设备和组件
检测项目：冲击试验
检测对象：电子元器件
JESD22-B103B.01:2016
振动、变频
检测项目：振动试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A110E:2015
高加速温湿度应力试验
检测项目：加速老化寿命试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A110E.01:2021
高加速温湿度应力试验
检测项目：加速老化寿命试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A118B:2015
加速抗湿性-无偏压HAST
检测项目：加速老化寿命试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A118B.01:2021
加速抗湿性-无偏压HAST
检测项目：加速老化寿命试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A104F：2020
温度循环
检测项目：温度循环试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A104F.01-2023
温度循环
检测项目：温度循环试验
检测对象：电子元器件