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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选，展示 12 条相关能力。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 项目1101、项目1102
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 项目1101、项目1102
检测项目：外部目检、X射线检查、粒子碰撞噪声检测、密封、键合强度、剪切强度
检测对象：集成电路
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027B-2021 项目1101、项目1102
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027B-2021 项目1101、项目1102
检测项目：外部目检、X射线检查、粒子碰撞噪声检测、密封、键合强度、剪切强度
检测对象：集成电路