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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子器件”筛选，展示 40 条相关能力。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目：稳态寿命、恒定加速度、外部目检、内部目检（单片）、键合强度（破坏性键合拉力试验）、X射线照相、内部目检和结构检查、耐溶剂性 等 20 项，点击展开全部
检测对象：集成电路
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
检测项目：老炼试验、恒定加速度、外部目检、内部目检（单片）、键合强度（破坏性键合拉力试验）、稳态寿命、X射线照相、内部目检和结构检查 等 20 项，点击展开全部
检测对象：集成电路