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2026-05-12
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GJB 3233-1998
半导体集成电路失效分析程序和方法
检测项目：X射线照相、外部检查、内部检查、非功能测试 （补充电测试）
检测对象：半导体集成电路
GB/T 17574-1998
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 第2节 方法
检测项目：输入高电平电流、输入低电平电流、静态条件下的电源电流
检测对象：数字集成电路
AEC-Q100-REV-J:2023
基于失效机理的汽车集成电路应力测试验证 AEC-Q100-REV-J：2023 表格2第A4项
检测项目：TCT温度循环试验、HTST高温存储寿命测试、HTOL高温运行寿命
检测对象：集成电路及相关产品
JESD22-A108G:2022
温度，偏置和使用寿命
检测项目：HTOL高温运行寿命、LTOL低温运行寿命
检测对象：集成电路及相关产品
JESD22-A117E：2018
电可擦除可编程只读存储器（EEPROM）编程/擦除耐久性数据保持试验
检测项目：ECT周期耐久性、DR数据保持力
检测对象：集成电路及相关产品
AEC-Q100-005-REV-D1:2012
非易失性存储器编程/擦除耐久性，数据保持和工作寿命试验
检测项目：ECT周期耐久性、DR数据保持力
检测对象：集成电路及相关产品
GB/T 2423.50-2025
环境试验 第2部分：试验方法 试验Cy：恒定湿热 主要用于元件的加速试验
检测项目：恒定湿热试验
检测对象：集成电路及相关产品
JESD22-A104F.01:2023
温度循环 JESD22-A104F.01：
检测项目：TCT温度循环试验
检测对象：集成电路及相关产品
GB∕T 17626.5-2019
电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验
检测项目：SURGE浪涌(冲击)抗扰度试验
检测对象：集成电路及相关产品
IEC 61000-4-5:2017
电磁兼容性（EMC）第4-5部分：试验和测量技术浪涌抗扰度试验
检测项目：SURGE浪涌(冲击)抗扰度试验
检测对象：集成电路及相关产品
GB/T 17626.2—2018
电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验
检测项目：ESD静电放电抗扰度试验
检测对象：集成电路及相关产品
IEC 61000-4-2:2025
电磁兼容性（EMC）第4-2部分：试验和测量技术静电放电抗扰度试验
检测项目：ESD静电放电抗扰度试验
检测对象：集成电路及相关产品
GB∕T 19951-2019
道路车辆 电气/电子部件对静电放电抗扰性的试验方法
检测项目：ESD静电放电抗扰度试验（道路车辆）
检测对象：集成电路及相关产品
ISO 10605：2023
道路车辆 静电放电抗扰性的试验方法
检测项目：ESD静电放电抗扰度试验（道路车辆）
检测对象：集成电路及相关产品
GB∕T 17626.4-2018
电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
检测项目：EFT电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
检测对象：集成电路及相关产品
IEC 61000-4-4:2012
电磁兼容性（EMC）第4-4部分：试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
检测项目：EFT电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
检测对象：集成电路及相关产品
JESD22-A103E.01:2021
高温存储寿命
检测项目：HTST高温存储寿命测试
检测对象：集成电路及相关产品
JESD22-A101D.01：2021
稳态温度湿度偏置寿命试验
检测项目：THT稳态温湿度偏置寿命试验
检测对象：集成电路及相关产品
JESD22-A110E.01：2021
高加速温湿度应力试验
检测项目：HAST高加速温湿度应力试验
检测对象：集成电路及相关产品
JESD22-A118B.01：2021
加速防潮试验-无偏压高加速试验
检测项目：uHAST无偏压高加速试验
检测对象：集成电路及相关产品
GB/T 2423.1-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温
检测项目：低温试验
检测对象：集成电路及相关产品
GB/T 2423.2-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
检测项目：高温试验
检测对象：集成电路及相关产品