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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“微电子器件”筛选,展示 50 条相关能力。
按标准归类为 10 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021 方法
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021 方法
检测项目:绝缘电阻、外部目检、X射线照相、芯片连接的超声检测、内部气体成分分析、金属化扫描电子显微镜(SEM)检查、低气压、高温试验 等 24 项,点击展开全部
检测对象:电子元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 方法
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 方法
检测项目:外部目检、X射线照相、金属化扫描电子显微镜(SEM)检查、高温试验、耐湿、盐雾、热冲击、温度循环 等 18 项,点击展开全部
检测对象:电子元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021 方法方法
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021 方法方法
检测项目:静电放电敏感度
检测对象:电子元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021 方法2010.2、方法
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021 方法2010.2、方法
检测项目:内部目检
检测对象:电子元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 方法2010.1、方法
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 方法2010.1、方法
检测项目:内部目检
检测对象:电子元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021 方法1015.1、方法
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021 方法1015.1、方法
检测项目:老炼、寿命试验
检测对象:电子元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 方法1015.1、方法
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 方法1015.1、方法
检测项目:老炼、寿命试验
检测对象:电子元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021 方法1014.3 条件 A1、A2、C
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021 方法1014.3 条件 A1、A2、C
检测项目:密封
检测对象:电子元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 方法1014.2 条件 A1、A2、C
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 方法1014.2 条件 A1、A2、C
检测项目:密封
检测对象:电子元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021 方法2007、方法
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021 方法2007、方法
检测项目:振动
检测对象:电子元器件