当前查看：中国电子科技集团公司第三十八研究所计量测试中心
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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子器件”筛选，展示 9 条相关能力。
按标准归类为 5 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目：密封试验、恒定加速度试验、颗粒碰撞噪声检测试验
检测对象：电子及电气元件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
检测项目：密封试验、恒定加速度试验、颗粒碰撞噪声检测试验
检测对象：电子及电气元件
微电子器件试验方法2007、2026.1 GJB548C-2021 方法2007、
微电子器件试验方法2007、2026.1 GJB548C-2021 方法2007、
检测项目：振动试验
检测对象：电子及电气元件
微电子器件试验方法和程序方法1001 低气压试验 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序方法1001 低气压试验 GJB548B-2005 方法
检测项目：低气压试验
检测对象：电子及电气元件
微电子器件试验方法和程序方法1001 低气压试验 GJB548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序方法1001 低气压试验 GJB548C-2021 方法
检测项目：低气压试验
检测对象：电子及电气元件