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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子及电气元件”筛选，展示 22 条相关能力。
按标准归类为 13 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
检测项目：密封试验、恒定加速度试验
检测对象：电子及电气元件
电子及电气元件试验方法：方法107：温度冲击试验 GJB360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法：方法107：温度冲击试验 GJB360B-2009 方法
检测项目：温度冲击
检测对象：电子及电气元件
电子及电气元件试验方法103 稳态湿热试验 GJB360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法103 稳态湿热试验 GJB360B-2009 方法
检测项目：湿热试验
检测对象：电子及电气元件
电子及电气元件试验方法201、204、214 GJB360B-2009 方法201、204、
电子及电气元件试验方法201、204、214 GJB360B-2009 方法201、204、
检测项目：振动试验
检测对象：电子及电气元件
电子及电气元件试验方法105 低气压试验 GJB360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法105 低气压试验 GJB360B-2009 方法
检测项目：低气压试验
检测对象：电子及电气元件
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
检测项目：密封试验、恒定加速度试验、颗粒碰撞噪声检测试验
检测对象：电子及电气元件
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法
检测项目：密封试验、恒定加速度试验、颗粒碰撞噪声检测试验
检测对象：电子及电气元件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目：密封试验、恒定加速度试验、颗粒碰撞噪声检测试验
检测对象：电子及电气元件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
检测项目：密封试验、恒定加速度试验、颗粒碰撞噪声检测试验
检测对象：电子及电气元件
微电子器件试验方法2007、2026.1 GJB548C-2021 方法2007、
微电子器件试验方法2007、2026.1 GJB548C-2021 方法2007、
检测项目：振动试验
检测对象：电子及电气元件
半导体分立器件试验方法1001 低气压试验 GJB128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法1001 低气压试验 GJB128B-2021 方法
检测项目：低气压试验
检测对象：电子及电气元件
微电子器件试验方法和程序方法1001 低气压试验 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序方法1001 低气压试验 GJB548B-2005 方法
检测项目：低气压试验
检测对象：电子及电气元件
微电子器件试验方法和程序方法1001 低气压试验 GJB548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序方法1001 低气压试验 GJB548C-2021 方法
检测项目：低气压试验
检测对象：电子及电气元件