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2026-05-12
当前机构按“电子器件”筛选，展示 14 条相关能力。
按标准归类为 8 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：交变湿热试验、温度冲击试验、温度变化试验、低气压试验
检测对象：电工电子产品与设备
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883H：2010 方法
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883H：2010 方法
检测项目：温度冲击试验、温度变化试验、低气压试验、交变湿热试验
检测对象：电工电子产品与设备
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883H：2010 方法 1009.8 盐雾(盐气)
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883H：2010 方法 1009.8 盐雾(盐气)
检测项目：盐雾试验
检测对象：电工电子产品与设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1009.2 盐雾(盐气)
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1009.2 盐雾(盐气)
检测项目：盐雾试验
检测对象：电工电子产品与设备
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883H：2010 方法2005.2 振动疲劳，2007.3 扫频振动
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883H：2010 方法2005.2 振动疲劳，2007.3 扫频振动
检测项目：振动试验
检测对象：电工电子产品与设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 2005 振动疲劳、2007 扫频振动
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 2005 振动疲劳、2007 扫频振动
检测项目：振动试验
检测对象：电工电子产品与设备
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883H：2010 方法2002.5 机械冲击
微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883H：2010 方法2002.5 机械冲击
检测项目：冲击试验
检测对象：电工电子产品与设备
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2002.1机械冲击
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2002.1机械冲击
检测项目：冲击试验
检测对象：电工电子产品与设备