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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“微电子器件”筛选，展示 20 条相关能力。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目：恒定加速度、老炼试验、绝缘电阻、密封、粒子碰撞噪声检测、扫频振动、随机振动、机械冲击 等 13 项，点击展开全部
检测对象：微电子器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：内部目检（单片）、破坏性物理分析（DPA）的内部目检、稳定性烘焙、引线牢固性、内部目检和结构检查、芯片剪切强度、芯片粘接的超声检测
检测对象：微电子器件