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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子产品”筛选,展示 29 条相关能力。
按标准归类为 10 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
GB/T2423.15-2008
电工电子产品环境试验 试验Ga和导则:恒定加速度
检测项目:恒定加速度试验
检测对象:电工电子产品、微电子器件、半导体分立器件
GB/T2423.22-2012
电工电子产品环境试验 试验N:温度变化
检测项目:温度循环试验
检测对象:电工电子产品、微电子器件、半导体分立器件
GB/T2423.2-2008
电工电子产品环境试验 第2部分 试验B:高温试验
检测项目:高温试验
检测对象:电工电子产品、微电子器件、半导体分立器件
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021
检测项目:耐湿试验、恒定加速度试验、温度循环试验、密封试验、粒子碰撞噪声检测、高温试验
检测对象:电工电子产品、微电子器件、半导体分立器件
半导体分立器件试验方法 GJB128A-97
半导体分立器件试验方法 GJB128A-97
检测项目:恒定加速度试验、温度循环试验、密封试验、粒子碰撞噪声检测、高温试验、耐湿试验
检测对象:电工电子产品、微电子器件、半导体分立器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021
检测项目:恒定加速度试验、温度循环试验、密封试验、粒子碰撞噪声检测、高温试验、耐湿试验
检测对象:电工电子产品、微电子器件、半导体分立器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
检测项目:恒定加速度试验、温度循环试验、密封试验、高温试验、耐湿试验
检测对象:电工电子产品、微电子器件、半导体分立器件
军用装备实验室环境试验第4部分:低温试验 GJB150.4A-
军用装备实验室环境试验第4部分:低温试验 GJB150.4A-
检测项目:低温试验
检测对象:电工电子产品、微电子器件、半导体分立器件
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009
检测项目:耐湿试验
检测对象:电工电子产品、微电子器件、半导体分立器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2021
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2021
检测项目:粒子碰撞噪声检测
检测对象:电工电子产品、微电子器件、半导体分立器件