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2026-05-12
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按标准归类为 56 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T4586-1994
半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管 /第Ⅳ篇第2节
检测项目：栅极截止电流/栅极泄漏电流、漏极电流、漏极截止电流、栅-源截止电压、栅-源阈值电压、漏-源通态电阻
检测对象：场效应晶体管
GB/T 15291-2015
半导体器件 第6部分：晶闸管 /9.1.2节
检测项目：通态电压、反向峰值电流、维持电流、断态电流、门极触发电流、门极触发电压
检测对象：晶闸管
GB/T2693-2001
电子设备用固定电容器第一部分：总规范 /4.5节
检测项目：绝缘电阻、耐电压、电容量、损耗角正切和等效电阻、漏电流、阻抗
检测对象：固定电容器
GB/T6798-1996
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 4.3节
检测项目：输入失调电流、输入失调电压、输入偏置电流、开环电压放大倍数、共模抑制比
检测对象：运算放大器和电压比较器
GB/T 15298-1994
电子设备用电位器第一部分：总规范 /4.6节
检测项目：电阻体阻值、终端阻值、开关接触电阻、耐电压、绝缘电阻
检测对象：电位器
GB/T 8554-1998
电子通信设备用变压器和电感器测量方法和试验程序 第4.4.4节
检测项目：电感量、Q值、自谐频率、直流电阻、绝缘电阻
检测对象：固定电感器
GB/T4023-2015
半导体器件：分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 /
检测项目：正向电压、反向电流、正向恢复峰值电压、雪崩和可控雪崩整流二极管的击穿电压
检测对象：二极管
GB/T 5729-2003
电子设备用固定电阻器第一部分：总规范 /4.5节
检测项目：电阻值、绝缘电阻、耐电压、过载
检测对象：固定电阻器
GB/T4587-1994
半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 /第Ⅳ篇第1节
检测项目：集电极电流为零时的发射极 基极击穿电压、集电极发射极击穿电压、共发射极正向电流传输比的静态值
检测对象：双极型晶体管
GB/T6571-1995
半导体器件 分立器件 第3部：信号（包括开关）和调整二极管 第Ⅳ章 第2节
检测项目：正向电压、反向电流、工作电压
检测对象：二极管
GB/T 17940-2000
半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 第IV篇 第2节
检测项目：输入失调电流、输入偏置电流、开环电压放大倍数
检测对象：运算放大器和电压比较器
GB/T 17574-1998
半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第IV篇第2节
检测项目：输出高电平电压、输出高阻态电流
检测对象：数字集成电路
JB/T 5843-2005
电力半导体器件用接插件 4.3节
检测项目：接触电阻、绝缘强度
检测对象：连接器
石英晶体元件通用规范 GJB 2138A-2015 4.6.1节
石英晶体元件通用规范 GJB 2138A-2015 4.6.1节
检测项目：频率、等效电阻
检测对象：谐振器
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
检测项目：温度冲击试验、高温寿命试验
检测对象：电子及电气元件筛选
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
检测项目：老炼（二极管、整流管、稳压管）、老炼（晶体管）
检测对象：半导体分立器件筛选
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.1节
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.1节
检测项目：正向电压（输入二极管）
检测对象：光电耦合器
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.2节
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.2节
检测项目：正向电流（二极管）
检测对象：光电耦合器
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.3节
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.3节
检测项目：反向电流（二极管）
检测对象：光电耦合器
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.4节
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.4节
检测项目：反向击穿电压（二极管）
检测对象：光电耦合器
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.5节
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.5节
检测项目：结电容
检测对象：光电耦合器
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.6节
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.6节
检测项目：集电极-发射极击穿电压
检测对象：光电耦合器
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.7节
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.7节
检测项目：集电极-发射极饱和电压
检测对象：光电耦合器
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.8节
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.8节
检测项目：输出截止电流
检测对象：光电耦合器
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.9节
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.9节
检测项目：电流传输比
检测对象：光电耦合器
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.14节
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.14节
检测项目：输出高电平电压
检测对象：光电耦合器
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.15节
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.15节
检测项目：输出低电平电压
检测对象：光电耦合器
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.16节
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.16节
检测项目：高电平电源电流
检测对象：光电耦合器
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.17节
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.17节
检测项目：低电平电源电流
检测对象：光电耦合器
晶体振荡器通用规范 GJB 1648A-2011 4.6.3节
晶体振荡器通用规范 GJB 1648A-2011 4.6.3节
检测项目：电源电压
检测对象：晶体振荡器
晶体振荡器通用规范 GJB 1648A-2011 4.6.6节
晶体振荡器通用规范 GJB 1648A-2011 4.6.6节
检测项目：初始准确度
检测对象：晶体振荡器
晶体振荡器通用规范 GJB 1648A-2011
晶体振荡器通用规范 GJB 1648A-2011
检测项目：输出阻抗
检测对象：晶体振荡器
军用EMI吸波元件（包括磁珠、磁环、磁筒、磁夹板等元件）通用规范 SJ/20819-2002 /4.7.3节
军用EMI吸波元件（包括磁珠、磁环、磁筒、磁夹板等元件）通用规范 SJ/20819-2002 /4.7.3节
检测项目：阻抗频率特性
检测对象：磁珠
有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范 GJB675A-2002 /4.5.3.2节
有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范 GJB675A-2002 /4.5.3.2节
检测项目：电感量
检测对象：固定电感器
有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范 GJB675A-2002 /4.5.3.3节
有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范 GJB675A-2002 /4.5.3.3节
检测项目：Q值
检测对象：固定电感器
有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范 GJB675A-2002 /4.5.3.4节
有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范 GJB675A-2002 /4.5.3.4节
检测项目：自谐频率
检测对象：固定电感器
有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范 GJB675A-2002 /4.5.3.7节
有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范 GJB675A-2002 /4.5.3.7节
检测项目：直流电阻
检测对象：固定电感器
有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范 GJB675A-2002 /4.5.4节
有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范 GJB675A-2002 /4.5.4节
检测项目：介质耐电压
检测对象：固定电感器
有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范 GJB675A-2002 /4.5.6节
有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范 GJB675A-2002 /4.5.6节
检测项目：绝缘电阻
检测对象：固定电感器
有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范 GJB675A-2002 /4.5.9节
有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范 GJB675A-2002 /4.5.9节
检测项目：过载
检测对象：固定电感器
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.5节
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.5节
检测项目：绝缘电阻
检测对象：固体继电器
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017
检测项目：输入电流
检测对象：固体继电器
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.7.10节
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.7.10节
检测项目：关断电压
检测对象：固体继电器
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.7.9节
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.7.9节
检测项目：接通电压
检测对象：固体继电器
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.7.14节
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.7.14节
检测项目：关断时间
检测对象：固体继电器
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.7.13节
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.7.13节
检测项目：接通时间
检测对象：固体继电器
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.7.15节
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.7.15节
检测项目：输出电压降
检测对象：固体继电器
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.7.16节
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.7.16节
检测项目：输出漏电流
检测对象：固体继电器
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.7.25节
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.7.25节
检测项目：功耗
检测对象：固体继电器
军用EMI电源滤波器规范 GJB 8707-2015 4.6.3节
军用EMI电源滤波器规范 GJB 8707-2015 4.6.3节
检测项目：耐电压
检测对象：滤波器
军用EMI电源滤波器规范 GJB 8707-2015 4.6.4节
军用EMI电源滤波器规范 GJB 8707-2015 4.6.4节
检测项目：对地电容
检测对象：滤波器
军用EMI电源滤波器规范 GJB 8707-2015 4.6.6节
军用EMI电源滤波器规范 GJB 8707-2015 4.6.6节
检测项目：电压降
检测对象：滤波器
军用EMI电源滤波器规范 GJB 8707-2015 4.6.7节
军用EMI电源滤波器规范 GJB 8707-2015 4.6.7节
检测项目：泄漏电流
检测对象：滤波器
军用EMI电源滤波器规范 GJB 8707-2015 4.6.13节
军用EMI电源滤波器规范 GJB 8707-2015 4.6.13节
检测项目：绝缘电阻
检测对象：滤波器
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1026、
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1026、
检测项目：稳态工作寿命
检测对象：半导体分立器件筛选
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1031、
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1031、
检测项目：高温寿命
检测对象：半导体分立器件筛选