当前查看：北京七一八友晟电子有限公司实验分析中心
北京市 · 北京市
地址：北京市平谷区中关村科技园区平谷园马坊工业园西区316号（1区E21地块）
联系电话：010-64334545
数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选，展示 24 条相关能力。
按标准归类为 12 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027B-2021 工作项目 0101、
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027B-2021 工作项目 0101、
检测项目：外部目检、内部目检、制样镜检
检测对象：电阻器
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027-2000 工作项目 0101、
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027-2000 工作项目 0101、
检测项目：外部目检、制样镜检
检测对象：电阻器
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目 0101、
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目 0101、
检测项目：外部目检、制样镜检
检测对象：电阻器
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027-2000 工作项目
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027-2000 工作项目
检测项目：内部目检
检测对象：电阻器
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目
检测项目：内部目检
检测对象：电阻器
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目：密封、盐雾、稳定性烘焙、恒定加速度、外观检查
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
检测项目：密封、盐雾、稳定性烘焙、恒定加速度、外观检查
检测对象：电子元器件
电子及电气元件试验方法 GJB360A-1996 方法
电子及电气元件试验方法 GJB360A-1996 方法
检测项目：盐雾
检测对象：电子元器件
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
检测项目：盐雾
检测对象：电子元器件
片式膜固定电阻器通用规范 GJB1432B-2009
片式膜固定电阻器通用规范 GJB1432B-2009
检测项目：外观检查
检测对象：电子元器件
片式膜固定电阻器通用规范 GJB1432C-2021
片式膜固定电阻器通用规范 GJB1432C-2021
检测项目：外观检查
检测对象：电子元器件
GB/T5729-2003
电子设备用固定电阻器 第1部分：总规范
检测项目：外观检查
检测对象：电子元器件