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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子及电气元件”筛选，展示 54 条相关能力。
按标准归类为 20 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目：电容量、电阻值、绝缘电阻、粒子碰撞噪声检测试验、密封性、温度循环试验、稳态湿热试验、电子元件老炼 等 9 项，点击展开全部
检测对象：固定电容器
检测对象：固定电阻器
检测对象：电子及电气元件
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法
检测项目：高温试验、键合强度、剪切强度、粒子碰撞噪声检测试验、密封性、温度循环试验、半导体分立器件老炼
检测对象：电子及电气元件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：高温试验、键合强度、剪切强度、粒子碰撞噪声检测试验、密封性、温度循环试验、集成电路老炼
检测对象：电子及电气元件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021方法
检测项目：高温试验、键合强度、剪切强度、粒子碰撞噪声检测试验、温度循环试验、集成电路老炼
检测对象：电子及电气元件
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法
检测项目：键合强度、剪切强度、粒子碰撞噪声检测试验、密封性、温度循环试验
检测对象：电子及电气元件
GB/T 2423.2-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
检测项目：高温试验
检测对象：电子及电气元件
军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验 GJB 150.3A-
军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验 GJB 150.3A-
检测项目：高温试验
检测对象：电子及电气元件
半导体分立器件试验方法GJB128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法GJB128B-2021 方法
检测项目：高温试验
检测对象：电子及电气元件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
检测项目：密封性
检测对象：电子及电气元件
片式固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 2283A-2014 4.5.5电压老化
片式固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 2283A-2014 4.5.5电压老化
检测项目：电子元件老炼
检测对象：电子及电气元件
高可靠瓷介固定电容器通用规范 GJB 4157-2011 方法
高可靠瓷介固定电容器通用规范 GJB 4157-2011 方法
检测项目：电子元件老炼
检测对象：电子及电气元件
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1038 试验条件A
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1038 试验条件A
检测项目：半导体分立器件老炼
检测对象：电子及电气元件
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1038 试验条件B
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1038 试验条件B
检测项目：半导体分立器件老炼
检测对象：电子及电气元件
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1039 试验条件A
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1039 试验条件A
检测项目：半导体分立器件老炼
检测对象：电子及电气元件
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1039 试验条件B
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1039 试验条件B
检测项目：半导体分立器件老炼
检测对象：电子及电气元件
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1040 试验条件B
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1040 试验条件B
检测项目：半导体分立器件老炼
检测对象：电子及电气元件
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1042 试验条件A
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1042 试验条件A
检测项目：半导体分立器件老炼
检测对象：电子及电气元件
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1042 试验条件B
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1042 试验条件B
检测项目：半导体分立器件老炼
检测对象：电子及电气元件
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1042 试验条件C
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1042 试验条件C
检测项目：半导体分立器件老炼
检测对象：电子及电气元件
半导体光电子器件筛选与验收通用要求 GJB 5018-2001 筛选方法
半导体光电子器件筛选与验收通用要求 GJB 5018-2001 筛选方法
检测项目：半导体分立器件老炼
检测对象：电子及电气元件