当前查看：北京微电子技术研究所检测中心
北京市
数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子器件”筛选，展示 55 条相关能力。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：密封、盐雾、内部目检、键合强度、芯片剪切强度、外部目检、温度循环、老炼试验 等 28 项，点击展开全部
检测对象：电工电子产品
检测对象：半导体集成电路
检测对象：半导体集成电路外壳
GJB548B-2005
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：温度循环、内部目检、键合强度、芯片剪切强度、外部目检、老炼试验、稳态寿命、耐溶剂性 等 27 项，点击展开全部
检测对象：电工电子产品
检测对象：半导体集成电路
检测对象：半导体集成电路外壳