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2026-05-12
当前展示该机构前 31 条能力；该机构共 31 条能力记录。
按标准归类为 13 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
JESD47M :2025
集成电路的应力测试驱动的鉴定 5.5 表 5-
检测项目：早期失效试验、高温运行寿命、非易失性存储器高温循环擦写耐力测试、非易失性存储器高温循环擦写后的高温数据保持能力测试、低温运行寿命、非易失性存储器未经循环擦写的高温数据保持能力测试、非易失性存储器常温循环擦写耐力测试、非易失性存储器常温循环擦写后的数据保持能力测试和读操作干扰测试
检测对象：存储器、微控制器、传感器及电源管理等器件
AEC-Q100-005-REV-D1:2012
非易失性存储器编程/擦除耐久性，数据保持和工作寿命试验
检测项目：非易失性存储器高温循环擦写耐力测试、高温循环擦写后的高温工作寿命测试、高温循环擦写后的超高温数据保持能力测试、非易失性存储器未经循环擦写的超高温数据保持能力测试、非易失性存储器常温循环擦写耐力测试、非易失性存储器常温循环擦写后的数据保持能力测试
检测对象：存储器、微控制器、传感器及电源管理等器件
JESD22-A117E:2018
电可擦除可编程只读存储器（EEPROM）编程/擦除耐久性数据保持试验
检测项目：非易失性存储器高温循环擦写耐力测试、非易失性存储器高温循环擦写后的高温数据保持能力测试、非易失性存储器未经循环擦写的高温数据保持能力测试、非易失性存储器常温循环擦写耐力测试、非易失性存储器常温循环擦写后的数据保持能力测试和读操作干扰测试
检测对象：存储器、微控制器、传感器及电源管理等器件
JESD22-A108G:2022
温度，偏置和使用寿命
检测项目：低温运行寿命、高温运行寿命、早期失效试验
检测对象：存储器、微控制器、传感器及电源管理等器件
AEC-Q100-008-REV-A:2003
早期寿命失效率
检测项目：早期失效试验
检测对象：存储器、微控制器、传感器及电源管理等器件
ANSI ESDA JEDEC JS-001-2024
静电放电敏感度测试 静电放电人体模型-器件级 6.2、8.0 Table 3.
检测项目：静电放电人体模型(HBM)测试
检测对象：存储器、微控制器、传感器及电源管理等器件
AEC-Q100-002-REV-E-2013
静电放电人体模型测试 AEC-Q100-002-REV-E: 2013
检测项目：静电放电人体模型(HBM)测试
检测对象：存储器、微控制器、传感器及电源管理等器件
ANSI ESDA JEDEC JS-002-2025
静电放电敏感度测试 带电器件模型(CDM)-器件级 7.3.3、8.0 Table 3.
检测项目：带电器件模型(CDM)静电放电测试
检测对象：存储器、微控制器、传感器及电源管理等器件
AEC-Q100-011-REV-D: 2019
带电器件模型(CDM)-静电放电(ESD)测试 AEC-Q100-011-REV-D-2019
检测项目：带电器件模型(CDM)静电放电测试
检测对象：存储器、微控制器、传感器及电源管理等器件
JESD78F.02-2023
集成电路锁定测试 3.3、
检测项目：锁定测试
检测对象：存储器、微控制器、传感器及电源管理等器件
AEC-Q100-004-REV-D-2012
集成电路锁定测试 1.1、2、4、5、表 A
检测项目：锁定测试
检测对象：存储器、微控制器、传感器及电源管理等器件
JESD22-A118B.01-2021
无偏高加速应力测试 3、4、
检测项目：无偏高加速应力测试
检测对象：存储器、微控制器、传感器及电源管理等器件
JESD22-A103E.01-2021
高温存储寿命测试
检测项目：高温存储寿命测试
检测对象：存储器、微控制器、传感器及电源管理等器件