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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选，展示 25 条相关能力。
按标准归类为 11 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB 360B-2009
电子及电气元件试验方法 方法
检测项目：耐湿、稳态湿热、高温寿命、温度变化、冲击
检测对象：电子元器件及电气元件
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：耐湿、高温寿命、温度变化、低气压、盐雾
检测对象：电子元器件及电气元件
GJB 128A-1997
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目：高温寿命、温度变化、冲击
检测对象：电子元器件及电气元件
GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：耐湿、温度变化
检测对象：电子元器件及电气元件
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法
检测项目：低气压、盐雾
检测对象：电子元器件及电气元件
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目：低气压、盐雾
检测对象：电子元器件及电气元件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：低气压、盐雾
检测对象：电子元器件及电气元件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1005.1、1006、
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1005.1、1006、
检测项目：高温寿命
检测对象：电子元器件及电气元件
微电子器件试验方法和程序微电路试验方法 GJB 548B-2005 方法2005、2007、
微电子器件试验方法和程序微电路试验方法 GJB 548B-2005 方法2005、2007、
检测项目：振动
检测对象：电子元器件及电气元件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2005.1、2006、
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2005.1、2006、
检测项目：振动
检测对象：电子元器件及电气元件
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法201、204、
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法201、204、
检测项目：振动
检测对象：电子元器件及电气元件