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2026-05-12
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GB/T 36477-2018
半导体集成电路快闪存储器测试方法
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、电源电流、输入高电平电压、输入低电平电压、输出高电平电流 等 11 项，点击展开全部
检测对象：集成电路
GB/T 17574-1998
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 测试方法 2-
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、电源电流
检测对象：集成电路
GB/T 2423.22-2012
环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化
检测项目：冷热冲击、快速温变
检测对象：电子电气产品
GB/T 2423.1-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温
检测项目：低温试验
检测对象：电子电气产品
ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2024
静电放电敏感度测试，人体模型（HBM）-器件级
检测项目：静电放电敏感度测试/人体模型
检测对象：集成电路
ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2022
静电放电敏感度测试，带电器件模型（CDM）-器件级
检测项目：静电放电敏感度测试/场感应器件放电模型
检测对象：集成电路
JEDEC JESD78F.02-2022
集成电路闩锁测试
检测项目：静电放电敏感度测试/集成电路闩锁测试
检测对象：集成电路
JEDEC JESD22-A119A-2015
低温存储寿命试验
检测项目：低温试验
检测对象：电子电气产品
GB/T 2423.2-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
检测项目：高温试验
检测对象：电子电气产品
JEDEC JESD22-A103E.01-2021
高温存储寿命试验
检测项目：高温试验
检测对象：电子电气产品
GB/T2423.3-2016
环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验
检测项目：恒定湿热
检测对象：电子电气产品
GB/T 2423.4-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db： 交变湿热（12h＋12h循环）
检测项目：交变湿热
检测对象：电子电气产品
JEDEC JESD22-A104F.01-2023
温度循环
检测项目：温度循环
检测对象：电子电气产品