当前查看：清华大学微电子学研究所未来芯片技术高精尖创新中心测试实验室
其他地区
数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子电气产品”筛选，展示 9 条相关能力。
按标准归类为 8 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 2423.22-2012
环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化
检测项目：冷热冲击、快速温变
检测对象：电子电气产品
GB/T 2423.1-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温
检测项目：低温试验
检测对象：电子电气产品
JEDEC JESD22-A119A-2015
低温存储寿命试验
检测项目：低温试验
检测对象：电子电气产品
GB/T 2423.2-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
检测项目：高温试验
检测对象：电子电气产品
JEDEC JESD22-A103E.01-2021
高温存储寿命试验
检测项目：高温试验
检测对象：电子电气产品
GB/T2423.3-2016
环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验
检测项目：恒定湿热
检测对象：电子电气产品
GB/T 2423.4-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db： 交变湿热（12h＋12h循环）
检测项目：交变湿热
检测对象：电子电气产品
JEDEC JESD22-A104F.01-2023
温度循环
检测项目：温度循环
检测对象：电子电气产品