当前查看：清华大学微电子学研究所未来芯片技术高精尖创新中心测试实验室
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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电源”筛选，展示 2 条相关能力。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 36477-2018
半导体集成电路快闪存储器测试方法
检测项目：电源电流
检测对象：集成电路
GB/T 17574-1998
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 测试方法 2-