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2026-05-12
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按标准归类为 29 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
晶体振荡器通用规范 GJB 1648A-2011
晶体振荡器通用规范 GJB 1648A-2011
检测项目：输入电流功率、基准温度下初始精度、频率温度稳定性、电频率调整、频率电压允差、谐波失真和副谐波失真、杂波响应、输出波形 等 15 项，点击展开全部
检测对象：晶体振荡器
GB/T42744-2023
微波电路电调衰减器测试方法
检测项目：插入损耗、带内波动、衰减量、衰减平坦度、衰减范围、衰减精度、输入驻波比、输出驻波比
检测对象：电调衰减器
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
检测项目：外部目检、高温贮存、温度冲击试验、密封(细检漏)、密封(粗检漏)、粒子碰撞噪声检测试验、老炼
检测对象：电子元器件
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
检测项目：介质耐电压、电容量、品质因数Q、绝缘电阻、粒子碰撞噪声检测试验、老炼
检测对象：射频同轴连接器转接器
检测对象：电容器
检测对象：电子元器件
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法
检测项目：外部目检、高温贮存、温度冲击试验、密封(细检漏)、密封(粗检漏)、粒子碰撞噪声检测试验
检测对象：电子元器件
射频同轴连接器转接器通用规范 GJB 680A-2009
射频同轴连接器转接器通用规范 GJB 680A-2009
检测项目：介质耐电压、绝缘电阻、接触电阻、电压驻波比、插入损耗
检测对象：射频同轴连接器转接器
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目：绝缘电阻、温度冲击试验、密封(细检漏)、密封(粗检漏)
检测对象：晶体谐振器
检测对象：电子元器件
微波组件通用规范 GJB8481-2015
微波组件通用规范 GJB8481-2015
检测项目：外部目检、密封(细检漏)、密封(粗检漏)、粒子碰撞噪声检测试验
检测对象：电子元器件
微电路试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电路试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：高温贮存、温度冲击试验、密封(细检漏)、密封(粗检漏)
检测对象：电子元器件
射频隔离器和环形器通用规范 GJB 1065B-2021
射频隔离器和环形器通用规范 GJB 1065B-2021
检测项目：反向损耗、正向损耗、介质耐电压、电压驻波比
检测对象：射频隔离器
同轴、带状线或微带传输线用射频同轴连接器通用规范 GJB 976A-2009
同轴、带状线或微带传输线用射频同轴连接器通用规范 GJB 976A-2009
检测项目：介质耐电压、绝缘电阻、接触电阻
检测对象：射频同轴连接器转接器
GB/T 2693-2001
电子设备用固定电容器第1部分：总规范
检测项目：电容量、绝缘电阻、损耗角正切（D）
检测对象：电容器
石英晶体元件通用规范 GJB 2138A-2015
石英晶体元件通用规范 GJB 2138A-2015
检测项目：频率和等效电阻、频率和等效电阻的测量、并电容
检测对象：晶体谐振器
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
检测项目：外部目检、温度冲击试验、粒子碰撞噪声检测试验
检测对象：电子元器件
GB/T42836-2023
微波半导体集成电路 混频器
检测项目：变频损耗、隔离度、电压驻波比
检测对象：混频器
微波混频器总规范 GJB1462A-2018
微波混频器总规范 GJB1462A-2018
检测项目：变频损耗、隔离度、电压驻波比
检测对象：混频器
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目：输出电压、输出电流、输入电流
检测对象：混合集成电路DC-DC转换器
射频同轴连接器通用规范 GJB681B-2021
射频同轴连接器通用规范 GJB681B-2021
检测项目：介质耐电压、绝缘电阻
检测对象：射频同轴连接器转接器
军用电子元器件筛选技术要求 GJB7243-2011
军用电子元器件筛选技术要求 GJB7243-2011
检测项目：介质耐电压、绝缘电阻
检测对象：射频同轴连接器转接器
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法
检测项目：密封(细检漏)、密封(粗检漏)
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目：粒子碰撞噪声检测试验、老炼
检测对象：电子元器件
GB/T 6571-1995
半导体器件 分立器件 第3部分：信号(包括开关)和调整二极管 方法IV-1-
检测项目：正向电压
检测对象：信号(包括开关)和调整二极管
GB/T5729-2003
电子设备用固定电阻器第1部分：总规范
检测项目：直流电阻值
检测对象：电阻器
射频电缆组件通用规范 GJB 1215A-2005
射频电缆组件通用规范 GJB 1215A-2005
检测项目：电压驻波比
检测对象：射频电缆组件
射频电缆组件通用规范 GJB 1215B-2021
射频电缆组件通用规范 GJB 1215B-2021
检测项目：电压驻波比
检测对象：射频电缆组件
固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 63C-2015
固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 63C-2015
检测项目：电容量
检测对象：电容器
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：外部目检
检测对象：电子元器件
有失效等级的铝电解电容器通用规范 GJB 603A-2011
有失效等级的铝电解电容器通用规范 GJB 603A-2011
检测项目：电容量
检测对象：电容器
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法1031、
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法1031、
检测项目：高温贮存
检测对象：电子元器件