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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子器件”筛选，展示 13 条相关能力。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
检测项目：外部目检、高温贮存、温度冲击试验、密封(细检漏)、密封(粗检漏)、粒子碰撞噪声检测试验、老炼
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021
检测项目：静电放电、机械冲击、热冲击
检测对象：密封半导体集成电路
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目：粒子碰撞噪声检测试验、老炼
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：外部目检
检测对象：电子元器件