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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子器件”筛选，展示 108 条相关能力。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：绝缘电阻、耐湿、稳态寿命、低气压（高空工作）、间歇寿命、模拟寿命、盐雾、温度循环 等 17 项，点击展开全部
检测对象：微电子器件
检测对象：微电子器件与半导体分立器件
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：绝缘电阻、盐雾试验、耐湿、稳态寿命、低气压（高空工作）、间歇寿命、模拟寿命、盐雾 等 17 项，点击展开全部
检测对象：微电子器件
检测对象：微电子器件与半导体分立器件
GJB 128A-1997
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目：高温寿命、耐湿、稳态寿命、盐雾、温度循环、露点、老炼试验、机械冲击 等 10 项，点击展开全部
检测对象：微电子器件与半导体分立器件
GJB 128B-2021
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目：高温寿命、耐湿、稳态寿命、盐雾、温度循环、露点、老炼试验、机械冲击 等 10 项，点击展开全部
检测对象：微电子器件与半导体分立器件