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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选,展示 5 条相关能力。
按标准归类为 5 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法 1038、1039、1040、
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法 1038、1039、1040、
检测项目:电子元器件(寿命试验)
检测对象:电子电气产品及元器件
《电子及电气元件试验方法》 GJB 360A-1996 方法
《电子及电气元件试验方法》 GJB 360A-1996 方法
检测项目:电子元器件(寿命试验)
检测对象:电子电气产品及元器件
《电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-2009 方法
《电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-2009 方法
检测项目:电子元器件(寿命试验)
检测对象:电子电气产品及元器件
《有失效率等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB733B-2011
《有失效率等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB733B-2011
检测项目:电子元器件(寿命试验)
检测对象:电子电气产品及元器件
《固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB63C-2015
《固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB63C-2015
检测项目:电子元器件(寿命试验)
检测对象:电子电气产品及元器件