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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选，展示 8 条相关能力。
按标准归类为 8 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-2009 方法
《电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-2009 方法
检测项目：老炼试验
检测对象：电子元器件
非固体电解质钽固定电容器总规范 GJB 1312A-2001
非固体电解质钽固定电容器总规范 GJB 1312A-2001
检测项目：老炼试验
检测对象：电子元器件
有失效等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 733B-2011
有失效等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 733B-2011
检测项目：老炼试验
检测对象：电子元器件
1类瓷介固定电容器通用规范 GJB 468A-2011
1类瓷介固定电容器通用规范 GJB 468A-2011
检测项目：老炼试验
检测对象：电子元器件
《固定电解质钽固定电容器通用规范》 GJB 63C-2015
《固定电解质钽固定电容器通用规范》 GJB 63C-2015
检测项目：老炼试验
检测对象：电子元器件
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法
检测项目：高温试验
检测对象：电子元器件
军用装备实验室环境试验方法 GJB 150.4A-2009 第4部分
军用装备实验室环境试验方法 GJB 150.4A-2009 第4部分
检测项目：低温试验
检测对象：电子元器件
电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-2009 方法
检测项目：温度冲击
检测对象：电子元器件