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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“微电子器件”筛选，展示 1 条相关能力。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
MIL-STD-883E: 1996
微电子器件试验方法 MIL-STD-883E：1996 方法
检测项目：剪切力测试
检测对象：半导体器件