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2026-05-12
当前展示该机构前 28 条能力;该机构共 28 条能力记录。
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GJB360B-2009
电子及电气元件试验方法 方法
检测项目:电容量、品质因数、高温寿命
检测对象:电容器
GJB128A-1997
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目:正向电压、反向漏电流、老炼(二极管、整流管、稳压管)
检测对象:半导体二极管
GJB128B-2021
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目:正向电压、反向漏电流、老炼(二极管、整流管、稳压管)
检测对象:半导体二极管
GB/T4023-2015
半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管
检测项目:正向电压、反向漏电流
检测对象:半导体二极管
GB/T2423.1-2008
《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温》
检测项目:低温试验
检测对象:电工电子及通讯产品
GB/T2423.5-2019
《环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击》
检测项目:冲击试验
检测对象:电工电子及通讯产品
GJB150.18A-2009
《军用装备实验室环境试验方法第18部分:冲击试验》
检测项目:冲击试验
检测对象:电工电子及通讯产品
GB/T2423.27-2020
《环境试验 第2部分:试验方法 试验方法和导则:温度/低气压或温度/湿度/低气压综合试验》
检测项目:温度-高度
检测对象:电工电子及通讯产品
GJB150.12A-2009
《军用装备实验室环境试验方法第12部分:砂尘试验》
检测项目:砂尘试验
检测对象:电工电子及通讯产品
GJB150.2A-2009
《军用装备实验室环境试验方法第2部分:低气压(高度)试验》
检测项目:低气压
检测对象:电工电子及通讯产品
GJB150.5A-2009
《军用装备实验室环境试验方法第5部分:温度冲击试验》
检测项目:温度冲击试验
检测对象:电工电子及通讯产品
GJB150.11A-2009
《军用装备实验室环境试验方法第11部分:盐雾试验》
检测项目:盐雾试验
检测对象:电工电子及通讯产品
GB/T 4315.2-2009
光学传递函数 第2部分:测量导则
检测项目:光学传递函数
检测对象:镜头
GJB150.4A-2009
《军用装备实验室环境试验方法第4部分:低温试验》
检测项目:低温试验
检测对象:电工电子及通讯产品
GB/T2423.2-2008
《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温》
检测项目:高温试验
检测对象:电工电子及通讯产品
GJB150.3A-2009
《军用装备实验室环境试验方法第3部分:高温试验》
检测项目:高温试验
检测对象:电工电子及通讯产品
GB/T2423.22-2012
《环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化》
检测项目:温度变化试验
检测对象:电工电子及通讯产品
GB/T2423.3-2016
环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验》
检测项目:湿热试验
检测对象:电工电子及通讯产品
GJB150.9A-2009
《军用装备实验室环境试验方法第9部分:湿热试验》
检测项目:湿热试验
检测对象:电工电子及通讯产品
GB/T2423.10-2019
《环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦)》
检测项目:振动试验
检测对象:电工电子及通讯产品
GJB150.16A-2009
《军用装备实验室环境试验方法第16部分:振动试验》
检测项目:振动试验
检测对象:电工电子及通讯产品