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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子器件”筛选，展示 7 条相关能力。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T2215-2015 方法
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T2215-2015 方法
检测项目：正向电压（输入二极管）、反向电流（二极管）、反向击穿电压（二极管）、集电极-发射极击穿电压、集电极-发射极饱和电压、电流传输比、输出截止电流
检测对象：半导体分立器件和集成电路光电子器件