上海傲世控制科技股份有限公司精准惯性器件质量检验中心

光纤陀螺仪测试方法 GJB 2426A-2015 方法

光纤陀螺仪测试方法 GJB 2426A-2015 方法

GB/T 2423.1-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温 5.3,

军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验 GJB 150.5A-

军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验 GJB 150.5A-

电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032-

电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032-

电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032A-

电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032A-

电子产品老炼试验方法 QJ 908B-

电子产品老炼试验方法 QJ 908B-

光纤陀螺仪测试方法 GJB 2426A-2015 1000类 标度因数系列 方法1001～方法

光纤陀螺仪测试方法 GJB 2426A-2015 1000类 标度因数系列 方法1001～方法

光纤陀螺仪测试方法 GJB 2426A-2015 2000类 零偏系列 方法2001～方法

光纤陀螺仪测试方法 GJB 2426A-2015 2000类 零偏系列 方法2001～方法

军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验 GJB 150.4A-

军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验 GJB 150.4A-

GB/T 2423.2-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 5.3,

军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验 GJB 150.3A-

军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验 GJB 150.3A-

GB/T 2423.3-2016

环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab：恒定湿热试验

GB/T 2423.50-2012

环境试验 第2部分：试验方法 试验Cy：恒定湿热 主要用于元件的加速试验

GB/T 2423.4-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db：交变湿热（12h＋12h循环）

GB/T2423.34-2012

环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AD：温度/湿度组合循环试验

军用装备实验室环境试验方法 第9部分：湿热试验 GJB 150.9A-

军用装备实验室环境试验方法 第9部分：湿热试验 GJB 150.9A-

GB/T 2423.5-2019

环境试验 第2部分：试验方法 试验Ea和导则：冲击

军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验 GJB 150.18A-

军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验 GJB 150.18A-

GB/T 2423.10-2019

环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc：振动(正弦)

军用装备实验室环境试验方法 第16部分：振动试验 GJB 150.16A-2009 7.3.1,

军用装备实验室环境试验方法 第16部分：振动试验 GJB 150.16A-2009 7.3.1,

GB/T 2423.22-2012

环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化 7,

GB/T 2423.17-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ka：盐雾

GB/T 2423.18-2021

环境试验 第2部分:试验方法 试验Kb: 盐雾，交变（氯化钠溶液） 9.4.2,

军用装备实验室环境试验方法 第11部分:盐雾试验 GJB 150.11A-

军用装备实验室环境试验方法 第11部分:盐雾试验 GJB 150.11A-

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009,方法

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009,方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021,方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021,方法

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法1041,方法

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法1041,方法

GB/T 2423.21-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验M：低气压

GB/T 2423.27-2020

环境试验 第2部分：试验方法 试验方法和导则：温度/低气压或温度/湿度/低气压综合试验 4.4.1，

军用装备实验室环境试验方法 第2部分：低气压(高度)试验 GJB 150.2A-2009 程序Ⅰ、Ⅱ

军用装备实验室环境试验方法 第2部分：低气压(高度)试验 GJB 150.2A-2009 程序Ⅰ、Ⅱ

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法