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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“半导体集成电路模拟开关”筛选，展示 8 条相关能力。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 14028-2018
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目：导通电阻R<sub>on</sub>、截止态漏极漏电流I<sub>D</sub>(<sub>off</sub>)、截止态源极漏电流I<sub>S</sub>(<sub>off</sub>)、导通态漏电流I<sub>DS</sub>(<sub>on</sub>)、导通电阻路差△R<sub>on</sub>
检测对象：半导体集成电路模拟开关
GB/T 17574-1998
半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节 (2)
检测项目：输入高电平电流I<sub>IH</sub>、输入低电平电流I<sub>IL</sub>、静态条件下的电源电流
检测对象：半导体集成电路模拟开关